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  • ?功率因數(shù)校正mos管,PFC電路mos管選型介紹
    • 發(fā)布時(shí)間:2025-07-03 19:07:57
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    功率因數(shù)校正mos管,PFC電路mos管選型介紹
    一、功率因數(shù)校正MOS管的關(guān)鍵作用
    提高功率因數(shù):MOS管通過(guò)精準(zhǔn)控制輸入電流波形,促使其與輸入電壓波形保持同步,從而顯著提升電源的功率因數(shù)。這一過(guò)程有助于降低電網(wǎng)的諧波污染,進(jìn)而優(yōu)化電能質(zhì)量,使得電能的傳輸和利用更加高效、穩(wěn)定。
    減少諧波失真:憑借對(duì)電流波形的精確掌控,MOS管能夠有效降低諧波失真,使輸入電流波形更加接近理想狀態(tài)的正弦波。這樣的優(yōu)化不僅提升了電能質(zhì)量,還有助于減少對(duì)電網(wǎng)的干擾,提高整個(gè)電力系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。
    提高效率:通過(guò)優(yōu)化電流波形,MOS管能夠最大限度地從電源汲取實(shí)際功率,進(jìn)而提高電源的整體效率。這意味著在相同的輸入功率下,電源可以提供更多的有用輸出功率,從而提升能源的利用效率,降低能源損耗。
    二、PFC電路MOS管選型要點(diǎn)
    MOSFET損耗占比及影響:在PFC電路中,MOSFET損耗通常占總損耗的20%左右。因此,選擇正確的MOSFET器件對(duì)于提升PFC效率至關(guān)重要。一種有效的選型方法是運(yùn)用針對(duì)特定應(yīng)用的品質(zhì)因數(shù)(FOM),以此最小化器件的總損耗。FOM不僅涉及針對(duì)傳導(dǎo)損耗的導(dǎo)通電阻值(RDS(on))和針對(duì)開(kāi)關(guān)損耗的柵極電荷值(Qg),還涵蓋了該器件的Qgs、Qgd的一部分以及其輸出電容值(Coss),其計(jì)算方式并非簡(jiǎn)單的RDS(on)與Qg相乘。
    標(biāo)準(zhǔn)AC/DC電源各級(jí)損耗要求:標(biāo)準(zhǔn)AC/DC電源主要分為四個(gè)層級(jí),分別是輸入、PFC前端、轉(zhuǎn)換器和次級(jí)。為了滿足80Plus“金級(jí)”效率標(biāo)準(zhǔn),所有級(jí)的合并損耗應(yīng)控制在額定輸出功率的約12%。具體到單純PFCMOSFET損耗,應(yīng)限制在總輸出功率的約2%或封裝功率限值,以較低者為準(zhǔn)。不同封裝的最大功率損耗限值如下:PowerPAKSO-8L(5x6)為5W,PowerPAK8x8為7W,TO-220/TO-220F為10W,TO-247為20W,SuperTO-247/Tmax為25W。傳導(dǎo)損耗可通過(guò)公式I²R進(jìn)行計(jì)算,其中需考慮器件的RDS(on)及其溫度系數(shù)。而開(kāi)關(guān)損耗的計(jì)算則需要綜合考量Qg、Qgd、Qgs以及Qoss等多個(gè)因素,Qoss是Coss的積分函數(shù)。
    輕負(fù)載情況下?lián)p耗考量:傳統(tǒng)的FOM,即RDS(on)(典型值)×Qg(典型值),并未將器件的Coss/Qoss納入考量范圍。然而,在輕負(fù)載情況下,開(kāi)關(guān)損耗可能超過(guò)傳導(dǎo)損耗,此時(shí)Coss/Qoss成為一個(gè)非常關(guān)鍵的損耗因素。Coss/Qoss越大,開(kāi)關(guān)損耗就越高。此外,Qoss損耗是固定的并且獨(dú)立于負(fù)載,這一點(diǎn)可從標(biāo)準(zhǔn)公式Poss=½CV²×Fsw(其中Fsw是開(kāi)關(guān)頻率)中得以體現(xiàn)。
    高壓MOSFET損耗特性及計(jì)算:在通用輸入電源中,PFCMOSFET始終受到380VDC至400VDC的主體DC總線電壓的限制,因此輸出開(kāi)關(guān)損耗有可能在總損耗中占有相當(dāng)大的比例。高壓MOSFET(HVM)的Coss隨著所施加的VDS的不同而有顯著變化。為準(zhǔn)確計(jì)算輸出電容器的非線性損耗,可采用Poss=½Coer×V²×Fsw作為損耗計(jì)算公式,其中Coer是由產(chǎn)品說(shuō)明書(shū)提供的有效電容,與MOSFET的集成Coss具有相同的存儲(chǔ)能量和相同的損耗。因此,新的FOM應(yīng)為Rds(on)(典型值)×(Qswitch(典型值)+Qoss),其中Qswitch是Qgd和Qgs的組合。
    例如,對(duì)于一個(gè)最大封裝功率損耗為8W且傳導(dǎo)損耗和開(kāi)關(guān)損耗各貢獻(xiàn)4W的TO-220/TO-220F器件,Coss/Qoss損耗將占到總封裝損耗的約20%,或總開(kāi)關(guān)損耗的約40%,這是標(biāo)準(zhǔn)FOM公式未能涵蓋的一個(gè)較大損耗部分。
    ?功率因數(shù)校正mos管
    封裝選項(xiàng)及功率額定值:鑒于存在多種可用封裝選項(xiàng),表1列出了針對(duì)不同封裝的最大功率額定值。每種封裝都有相應(yīng)的一系列器件可供選擇,因此有可能對(duì)廣泛的輸出功率推薦相同的封裝。為了實(shí)現(xiàn)SMT封裝(如PowerPAKSO-8L(5x6)和PowerPAK8x8)的最大可能功率耗散,必須確保PCB溫度在最壞條件下的應(yīng)用要求值范圍內(nèi)。建議的最大額定值因此受到系統(tǒng)熱設(shè)計(jì)因素的限制,而非單純由封裝損耗所決定。
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